GSM退网产测方案更新
之前初选出于成本考虑选择了无线综合测试仪8960（E5515C），后续与移远厂家进行了进一步沟通，推荐了售后更有保障，更具操作性的产测方案。 继续阅读“GSM退网产测方案更新”
2G退网产测方案初选
随着2G、3G网络逐步退网，外销某些市场的2G、3G模块国内逐步无法正常公网产测，故使用相关设备搭建环境进行产测提上了日程。 继续阅读“2G退网产测方案初选”
双85加速老化对应实际的时间
双85加速老化是一种通过提高温度和湿度来加速产品老化的测试方法，通常用于评估电子产品的可靠性。具体来说，双85加速老化是指在温度为85℃、相对湿度为85%的条件下进行的老化试验。 继续阅读“双85加速老化对应实际的时间”
如何更好完成低功耗设计？
“事实证明，低功耗设计是一个极富活力、不断发展的电子领域，对于解决我们这个时代的能源和环境挑战至关重要”。 继续阅读“如何更好完成低功耗设计？”
五个低功耗设计的实用技巧
虽然你可能认为低功耗设计只对电池供电的设备至关重要，但连接到电网的设备数量之多可能导致每年 10 – 15% 的发电量被浪费。因此，设计低功率的嵌入式系统对于最大限度地延长电池寿命和减少电网压力至关重要。(更不用说对环境的影响了）。在本文中，我们将探讨低功耗设计的实用技巧，帮助你开发节能的嵌入式系统。 继续阅读“五个低功耗设计的实用技巧”
深入NB-IoT VIII——NB-IoT拥塞控制特性
在NB-IoT网络下，M2M终端数量众多，根据45820协议的描述，每个小区下的终端数量会超过50000个，如果众多终端若集中上报，将对系统造成较大冲击。 继续阅读“深入NB-IoT VIII——NB-IoT拥塞控制特性”
天线增益小结
天线增益是指天线在某个方向上相对于一个理想点源天线所辐射的功率密度的增益。简而言之，天线增益是天线将其输入功率转换为辐射功率的能力。天线增益的单位是dBi（分贝相对于理想点源天线）或dBd（分贝相对于半波偶极子天线）。在本文中将初步探讨天线增益的概念、计算方法和应用。 继续阅读“天线增益小结”
深入NB-IoT VII——NB-IoT容量增强&低成本特性
咱们继续聊NB-IoT主要特性，本文将讲述NB-IoT容量增强&低成本特性。 继续阅读“深入NB-IoT VII——NB-IoT容量增强&低成本特性”